HTML> Все лучшее для вас
Все лучшее для вас!!! Суббота, 23.10.2021, 08:56
Меню сайта
Форма входа
Категории раздела
Игры [5228]
Мобила [344]
Софт [8340]
Журналы и книги [53034]
Картинки [2516]
Фильмы (видео) [3585]
Разное [2938]
Клипы [1179]
Новости в мире [16]
Все для фотошопа [936]
Все самое самое для мобилы [34]
Решебники (ГДЗ) [12]
Фильмы онлайн [16]
Статистика
Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Сегодняшние посетители
Наш опрос
Как вам сайтик
Всего ответов: 88
Наша кнопка


Получить код кнопки:

Реклама
Раскрутись
Главная » 2017 » Март » 28 » Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
13:07
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов М. И., Сергеев В. А.
Издательство: Ульяновск: УлГТУ
Год: 2015
Страниц: 406
Формат: PDF
Размер: 10,62 Мб
ISBN: 978-5-9795-1470-3
Качество: Отличное

Скачать Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Скачать с dfiles.ru
Скачать с turbobit.net
Скачать с bezsms.org
Скачать с katfile.com
Скачать с file-upload.com
Категория: Журналы и книги | Просмотров: 61 | Добавил: pmojka | Теги: Диагностические, методы, сергеев, современные, качества, контроля, полупроводниковых, надежности, изделий, Горлов | Рейтинг: 0.0/0
Всего комментариев: 0
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.
[ Регистрация | Вход ]
Поиск
Кто от куда?
Теги сайта
Друзья сайта
Русские программы
Поиск
Copyright MyCorp © 2021
Сделать бесплатный сайт с uCoz