Главная » 2011»Ноябрь»5 » Нанотехнология в электронике. Введение в специальность
00:00
Нанотехнология в электронике. Введение в специальность
Данное пособие знакомит читателя с историческими этапами зарождения наноэлектроники, определяет роль микроэлектроники на современном этапе. Также приведены теоретические основы и особенности наноэлектроники, отражены особенности инструментального и технологического обеспечения ее развития. Рассматриваются достижения нанотехнологии в электронике, перспективы и тенденции ее дальнейшего развития. Пособие предназначено для студентов вузов, обучающихся по специальности "Нанотехнология в электронике".
Название: Нанотехнология в электронике. Введение в специальность Автор: Лозовский В. Н., Константинова Г. С., Лозовский С. В. Издательство: Лань Год: 2008 Страниц: 336 Формат: DJVU Размер: 27,2 МБ ISBN: 978-5-8114-0827-6 Качество: Хорошее
Содержание:
Список сокращений Введение Часть первая. Фундаментальные основы инженерной подготовки 1. Особенности высшего технического образования 1.1. Современная система высшего образования и его цели 1.2. Особенности обучения в вузе 2. Фундаментальные основы инженерной деятельности 2.1. Направления инженерной деятельности 2.2. Практическая деятельность человека и современное естествознание 2.3. Естественнонаучные основы практической деятельности человека 2.4. Эволюция Вселенной и общность законов природы 2.5. Деятельность инженера и реальность 3. Фундаментальные основы дисциплины учебного плана 3.1. Особенности государственного образовательного стандарта по направлению «Нанотехнология в электронике» 3.2. Естественнонаучные дисциплины 3.3. Общепрофессиональные дисциплины 3.4. Специальные дисциплины 3.5. Гуманитарные и социально-экономические дисциплины 3.6. Основные требования к подготовке современного инженера Часть вторая. Этапы и основы развития электроники 4. Элементы квантовой физики 4.1. Связь электроники и квантовой физики 4.2. Этапы развития электроники 4.3. Основные представления квантовой механики 4.4. Квантовая модель атома 4.5. Понятие о потенциальных ямах и барьерах 4.6. Микрочастица в прямоугольной потенциальной яме 4.7. Туннельный эффект 4.8. Энергетический спектр кристалла 4.9. Собственная электропроводность полупроводников 4.10. Примесная электропроводности полупроводников 4.11. Эффект компенсации примесных уровней 4.12. Энергетические зоны на границе дырочного и электронного полупроводников 4.13. Понятие аффективной массы электрона 4.14. Неравновесная электропроводность собственного полупроводника 4.15. Зависимость электропроводности полупроводников от температуры 4.16. Полупроводниковые материалы в твердотельной электронике 5. Полупроводниковые структуры 5.1. Роль полупроводниковых структур в микро- и оптоэлектронике 6.2. Электронно-дырочный переход и его свойства 5.3. Транзисторы 5.4. Элементы оптоэлектроники. Гетеропереходы 5.5. P-n - переход как схемный элемент ИМС Часть третья. Научные и технологические основы наноэлектроникн 6. Предпосылки перехода от микро- к наноэлектронике 6.1. Вводные замечания 6.2. Основные этапы технологии ИМС 6.3. Получение полупроводникового материала 6.4. Получение полупроводниковых пластин 6.5. Получение эпитаксиальных структур 6.6. Методы формирования элементов ИМС 6.7. Литография 6.8. О преемственности этапов развития электроники 6.9. Краткий обзор новой научной базы наноэлектроники 7. Физические основы наноэлектроники 7.1. Квантоворазмерные эффекты 7.2. Простейшие виды низкоразмерных объектов 7.3. Энергетический спектр электронов и плотность электронных состояний в низкоразмерных областях 7.4. Резонансный туннельный эффект 7.5. Полупроводниковые сверхрешетки 7.6. Одноэлектронные устройства 7.7. Некоторые явления и устройства спинтроники 7.8. Некоторые устройства молекулярной электроники 8. Технические средства нанотехнологий 8.1. Два подхода к изготовлению структур в нанотехнологиях 8.2. Эпитиксиальные методы получения наноструктур структурах 8.3. Нанолитография 8.4. Зондовые нанотехнологии 8.5. Углеродные нанотрубки 8.6. Формирование квантовых точек и проволок 8.7. Контакты к отдельным молекулам 8.8. Линейная мера для измерений с помощью электронных и атомно-силовых микроскопов Заключение Литература Предметный указатель