Измерения и контроль в микроэлектронике — В книге рассматриваются основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при производстве интегральных микросхем. Для формирования у студентов единого подхода к вопросам измерения и контроля материал пособия излагается на основе действующих государственных и отраслевых стандартов. С этой же целью в нем рассматриваются главные понятия из области метрологии и основы технологии изготовления интегральных микросхем.
Название: Измерения и контроль в микроэлектронике Автор: Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С. и др. Издательство: Высшая школа Год: 1984 Страниц: 367 Формат: PDF Размер: 13,39 МБ Качество: Отличное
